膜厚計のレンタルランキング

膜厚計レンタルの人気ランキングをご紹介！当社サイト内の各カテゴリーごとのアクセス数を集計し、ランキングを作成しました。膜厚計のレンタルをお考えの方は、ぜひこのランキングを参考に、機器をお選びください。

【集計期間】2025/1/25～2025/4/24 このランキングは、アクセス数をもとに作成したランキングです。

ブックマーク

1 高性能膜厚計レプトスコープ 2042 日本マテック

48×24mmの大型液晶と128×64pixelの高分解能画面を搭載し、操作性が向上。プローブ接触ミスを検出し、データ除外で精度を向上。バックライト付きで暗所でも視認性を確保しています。

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基本情報	高性能膜厚計レプトスコープ 2042 校正書ランキング1位デュアルタイプ膜厚計ブックマークに追加	膜厚計 SWT-8200Ⅱ 校正書ランキング3位デュアルタイプ膜厚計ブックマークに追加	膜厚計 SWT-NEO 校正書デュアルタイプ膜厚計ブックマークに追加	膜厚計 SWT-9300 校正書人気多機能海外実績ありデュアルタイプ膜厚計ブックマークに追加	超音波式膜厚計 ULT-5000 校正書おすすめ超音波膜厚計ブックマークに追加	デュアルタイプ膜厚計 LZ-990(エスカル) 校正書おすすめ海外実績ありデュアルタイプ膜厚計ブックマークに追加	超音波膜厚計 QuintSonic7 超音波膜厚計ブックマークに追加	デュアルタイプ膜厚計 LZ-373 校正書人気多機能海外実績ありデュアルタイプ膜厚計ブックマークに追加	電磁式膜厚計 Pro-W/Pro-2 校正書海外実績あり電磁式膜厚計ブックマークに追加	電磁式膜厚計 SM-1100 校正書海外実績あり電磁式膜厚計ブックマークに追加	デュアルタイプ膜厚計 LZ300 校正書海外実績ありデュアルタイプ膜厚計ブックマークに追加	電磁式膜厚計 SM-1500D 校正書海外実績あり電磁式膜厚計ブックマークに追加	デュアルタイプ膜厚計 Smartest(FN2.6) 校正書デュアルタイプ膜厚計ブックマークに追加
メーカー	日本マテック	サンコウ電子研究所	サンコウ電子研究所	サンコウ電子研究所	サンコウ電子研究所	ケツト科学研究所	ElektroPhysik	ケツト科学研究所	サンコウ電子研究所	サンコウ電子研究所	ケツト科学研究所	サンコウ電子研究所	ElektroPhysik
測定範囲	0-500μm	接続プローブにより異なります	鉄素地：0 ～3．00mm、非鉄素地：0～2．50mm	接続プローブにより異なります	【FRP系】1.0～5.0 【エポキシ系1】1.0～5.0 【エポキシ系2】1.5～6.0 【ウレタン系】1.0～6.0 ※標準プローブ使用	0～2,000μm	10～7500μm（音速値が2375m/sの時）※積層合計	電磁誘導式：0～2500μmまたは99.0mils 渦電流式：0～1200μmまたは47.0mils	Pro-W：0～500μm・0.2～5mm Pro-2：0～500μm・0.2～5mm(2列目盛)	0～8.00mm	【電磁誘導式】0～1.50mmまたは60.00mils 【高周波渦電流式】0～0.80mmまたは32.00mils	0～15mm	鉄 0～2.6mm 非鉄 0～1.3mm
測定対象	磁性体母材上の被膜 ※単極式マイクロプローブ 90°使用の場合	【Fe-2.5(鉄素地用)】鉄・鋼などの磁性金属素地上の塗装【NFe-2.0(非鉄素地用)】アルミ、銅など非磁性金属素地上の絶縁性皮膜【 NFe-8(非鉄素地用)】アルミ、銅など非磁性金属素地上の絶縁性皮膜など/比較的厚物	鉄素地：鉄・鋼などの磁性金属素地上の塗装、ライニング、溶射膜、めっき（電解ニッケルめっきを除く）など非鉄素地：アルミ、銅など非磁性金属素地上の絶縁性皮膜など比較的汎用な測定物用	鉄素地：鉄・鋼などの磁性金属素地上の塗装、ライニング、溶射膜、メッキ（電解ニッケルメッキを除く）など非鉄素地：アルミ、銅など非磁性金属素地上の絶縁性皮膜など比較的汎用な測定物用	コンクリート上の塗装厚さ（FRP、エポキシ、ウレタンなど）	磁性金属上の非磁性皮膜、および非磁性金属上の絶縁皮膜	プラスチック・金属・木材・ガラス・セラミック素地上の被膜（多層の測定も可能）	磁性金属上の非磁性被膜非磁性金属上の絶縁被膜	鉄素地※上の絶縁性皮膜および非磁性金属皮膜　 (※鋼、SUS430などのフェライト系ステンレスを含む)	鉄素地※上の絶縁性皮膜および非磁性金属皮膜 ※鉄・フェライト系ステンレス（SUS430 など）含む	【電磁誘導式】磁性金属（鉄・鋼）上の非磁性被膜【高周波渦電流式】非磁性（非鉄）金属上の絶縁被膜	鉄素地※上の絶縁性皮膜および非磁性金属皮膜 ※鉄・フェライト系ステンレス（SUS430 など）含む	鉄・非鉄金属上の被膜
測定方式	磁性体母材　DIN50981, ISO2178 電磁法による　非磁性体母材 DIN50984, ISO2360 渦流法による	【Fe-2.5(鉄素地用)】磁気誘導式【NFe-2.0(非鉄素地用)】渦電流式【NFe-8(非鉄素地用)】渦電流式	電磁誘導式・渦電流式両用（鉄・非鉄素地自動判別）	電磁・渦電流両用式（素地自動判別）オプション品/渦電流式	超音波式パルス反射方式	電磁・渦電流式兼用（自動判別機能付き）	超音波エコー反射方式	電磁誘導式/渦電流式兼用	電磁誘導式	電磁誘導式	電磁誘導式、高周波渦電流式	電磁誘導式	電磁式・渦電流式
分解能	最小分解能 0.1μｍ(100μｍまで)	【Fe-2.5(鉄素地用)】1μm：0～9991μm 【NFe-2.0(非鉄素地用)】1μm：0～999μm 【 NFe-8(非鉄素地用)】1μm：0～999μm ※いずれも切り替え可能	1μm： 0～999μm 0．01mm： 1．00～3．00mm（鉄素地）　　　： 1．00～2．50mm（非鉄素地）切替えにより 0．1μm： 0～400μm 0．5μm： 400～500μm	1μm：0～999μm（鉄・非鉄共通）切替により 0.1μm：0～400μm（鉄・非鉄共通） 0.5μm：400～500μm（鉄・非鉄共通） 0.01mm：1.00～3.00mm（鉄素地）オプション品/ 1μm：0～999μm 0.01mm：1～8mm	0.01mm※標準構成プローブの測定範囲：1.0mm～（素材により変動）	100μm未満0.1μm　100μm以上1μm	0.1μm	100μm 未満：0.1μm、100μm 以上：1μm	-	0.01mm（1.00～8.00mm）、1μm（0～999μm）	100μm未満0.1μm 100μm以上1.0μm	0.1mm／0.01mm（切替）	0.05μm
記録	-	10,000点	-	内部メモリ：40,000点	-	内部メモリ：約1,000点	内部メモリ：約250,000点	内部メモリ：約39,000点	-	検量線×1、測定値1,800点	-	-	付属のスマートフォンに記録
電源	単3アルカリ電池２本、33時間使用(標準) 単3充電式電池使用可能	単3形乾電池×2、専用ACアダプター	単3アルカリ乾電池×2本、連続使用時間（25時間※） ACアダプタ ※最大（使用条件により変わることがあります。）	単3形乾電池×2、専用ACアダプター	単3形アルカリ乾電池×2、連続使用約10時間	単4形アルカリ乾電池（電池1.5V）×2	単3型乾電池×4	電池1.5V（単3アルカリ）×4	単4乾電池(1.5V)×6	単4乾電池（1.5V）×4	電池1.5V（単3アルカリ）×4	単4形乾電池（1.5V）×4、オートパワーオフ機能付き	LiFePO4バッテリー
重量・サイズ	220g 81(W)×121(H)×32(D)mm	200g 72（W）×30（H）×156（D）mm	約200ｇ（電池含む） 72（W）×32（H）×156（D）mm	210g 72（W）×30（H）×156（D）mm	約370g 70（W）×155（H）×28（D）mm	約160g 82（W）×99.5（D）×32（H）mm	【本体】310g 89（W）×153（H）×32（D）㎜【センサ】80g φ25×60㎜	75（W）×145（D）×31（H）mm、0.34kg	Pro-W：470g/ 110(W)×50(H)×137(D)mm Pro-2：500g/ 105(W)×48(H)×165(D)mm	約330g 80（W）×35（H）×150（D）mm	500g 75（W）×140（D）×31（H）mm	約460g 80（W）×35（H）×150（D）mm	60g 直径16mm×125mm

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