膜厚計日本マテックのレンタル

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デュアルタイプ膜厚計

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日本マテック

脱着式プローブが使用できる高性能モデル！

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基本情報	高性能膜厚計レプトスコープ 2042 校正書ランキング1位デュアルタイプ膜厚計ブックマークに追加
メーカー	日本マテック
測定範囲	0-500μm
測定対象	磁性体母材上の被膜 ※単極式マイクロプローブ 90°使用の場合
測定方式	磁性体母材　DIN50981, ISO2178 電磁法による　非磁性体母材 DIN50984, ISO2360 渦流法による
分解能	最小分解能 0.1μｍ(100μｍまで)
記録	-
電源	単3アルカリ電池２本、33時間使用(標準) 単3充電式電池使用可能
重量・サイズ	220g 81(W)×121(H)×32(D)mm