デュアルタイプ膜厚計 日本マテック のレンタル デュアルタイプ膜厚計 レンタル商品一覧 選択中の条件 日本マテック すべて解除 検索結果 1件 サイドメニューにある絞り込み検索で目的に合った商品を絞り込むことができます 校正書 デュアルタイプ膜厚計 高性能膜厚計レプトスコープ 2042 在庫: お問い合わせください お問い合わせください ランキング1位 日本マテック 脱着式プローブが使用できる高性能モデル! 詳しく見る 見積もりする ブックマークに追加 1 全機器選択解除 チェックした機器を比較 比較表ダウンロード 表示されている機種が多い場合は、左右にスライドさせてご確認ください。 チェック 基本情報 高性能膜厚計レプトスコープ 2042 校正書 ランキング1位 デュアルタイプ膜厚計 ブックマークに追加 メーカー 日本マテック 測定範囲 0-500μm 測定対象 磁性体母材上の被膜 ※単極式 マイクロプローブ 90°使用の場合 測定方式 磁性体母材 DIN50981, ISO2178 電磁法による 非磁性体母材 DIN50984, ISO2360 渦流法による 分解能 最小分解能 0.1μm(100μmまで) 記録 - 電源 単3アルカリ電池2本、33時間使用(標準) 単3充電式電池使用可能 重量・サイズ 220g 81(W)×121(H)×32(D)mm 校正書 ランキング1位 高性能膜厚計レプトスコープ 2042 在庫: お問い合わせください お問い合わせください 日本マテック 脱着式プローブが使用できる高性能モデル! 他のメーカーを見る ElektroPhysik サンコウ電子研究所 ケツト科学研究所 日本マテックのほかの一覧を見る 非破壊検査機器 非破壊検査機器 日本マテックをカテゴリーで絞り込む 膜厚計 探傷検査器 成分分析計 亀裂深度計